¿Cómo
funciona un microscopio electrónico? ¿Existen microscopios basados en otras
partículas fundamentales?
(Por
Francisco J. Terán)
Capítulo 57 de CIENCIA, y además lo entiendo!!!
(Noviembre 2016)
Desde
finales del siglo XVI, la microscopía se ha venido desarrollando como una rama
de la ciencia con el fin de proporcionar tecnologías que faciliten la
observación y el estudio de objetos demasiado pequeños de ser percibidos a
simple vista. A día de hoy, no está del todo claro si la primera “mirada” de la microscopía fue puesta en
el firmamento para estudiar esas “pequeñas
luces” que allí brillan denominadas "astros"
-Galileo Galilei no fue el pionero en la creación del telescopio pero si quien
más lo mejoró y publicitó (1)- o en los microorganismos -Antonie van
Leeuwenhoek fue pionero en microbiología por sus mejoras en el microscopio
(2)-.La microscopía óptica, basada en el uso de luz, lentes y otros componentes
ópticos, fue la primera en desarrollarse. Con ella se asentaron buena parte de
los fundamentos generales para otras microscopías que también emplean ondas
para sondear la materia en la escala submicrométrica. Así, se abrieron las
puertas a grandes avances en distintas áreas de la ciencia, desde el estudio de
la célula a las propiedades de la luz o la materia. Esto último fue clave para
el descubrimiento de ciertas leyes de la física a partir de las cuales han
surgido microscopías como la electrónica, permitiendo la visualización y
manipulación de objetos en la escala del nanómetro (1 nm = 10-9 m).
A principios del siglo XX, de Broglie (3) enunció el carácter ondulatorio del
electrón. La "óptica
electrónica" superó las limitaciones de la microscopía óptica en el
rango visible (400-700 nm) gracias a que de Broglie relacionó la longitud de
onda del electrón con su energía cinética (𝜆dB=h/p, donde h es la constante de Planck y p
el módulo del momento del electrón). De esta forma, acelerando al electrón
(i.e. aumentando p) se puede reducir 𝜆dB varios órdenes de magnitud. Consecuentemente, se pueden
lograr aumentos del orden de x106 con una resolución espacial del
orden del angstrom (1 Å= 10-10 m), valores muy alejados de los que
ofrece la microscopía óptica tanto en aumentos (~x103) como en resolución
espacial (~200 nm).
A continuación describiremos los
fundamentos básicos de las modalidades más relevantes de la microscopía
electrónica. Para finalizar, haremos mención a otras microscopías basadas en el
carácter ondulatorio de otras partículas.
1 Así funciona un microscopio electrónico
En
la actualidad, la microscopía electrónica es una técnica ampliamente extendida
para caracterizar formas, dimensiones, superficies y composición química de la
materia en la escala del nanómetro. A pesar de compartir fundamentos
ondulatorios teóricos con la microscopía óptica, la electrónica implica una tecnología mucho más compleja. La
microscopía electrónica posee principalmente tres modalidades: microscopía
electrónica de barrido (en inglés Scanning Electron Microscope, SEM),
transmisión (en inglés, Transmission Electron Microscopy, TEM), o de efecto
túnel (Scaning Tunelling Microscope, STM). De estas, se derivan a su vez otras
modalidades subyacentes como la microscopía electrónica de transmisión en barrido
(en inglés, scanning transmission electron microscope) o la microscopía
electrónica de reflexión (en inglés, reflection electron microscope).
Históricamente, el primer microscopio
electrónico se desarrolló en los años 30 del siglo XX. Ernst Ruska desarrollo
en Alemania el TEM cuyo diseño original
mantiene en la actualidad las partes principales. En su origen, el desarrollo
del TEM se benefició además de la demostración por Ruska que un electroimán
actúa como una lente electrónica. Ambos avances, la capacidad de controlar la
energía del electrón (i.e., 𝜆dB), y de generar un haz de electrones
de trayectoria variable, hicieron posible la construcción el primer TEM en
1933. Siemens inicio su comercialización en 1939. De esta manera se inició el
estudio de objetos cuyas dimensiones están en la escala del nm, que no ha
parado hasta hoy. En paralelo al
desarrollo del TEM, Manfred von Ardenne inventa en 1937 el SEM apoyándose en
descubrimientos de Max Knoll, quien también participo en la invención del TEM.
El funcionamiento del SEM se basa en el barrido de una región espacial mientras
incide un haz de electrones. Así, se puede estudiar superficies en base al
análisis de la interacción de los electrones con la superficie, por ejemplo,
analizando los electrones secundarios emitidos por los átomos de la superficie.
Finalmente, en 1981 Gerd Binnig y Heinrich Rohrer
desarrollan el STM, un microscopio electrónico basado en el efecto túnel, un
fenómeno cuántico que permite a un electrón atravesar una barrera de potencial mayor que su energía cinética. Es
decir, permitir el paso de una corriente de electrones desde el último átomo de
una punta metálica a otro ubicado sobre la superficie de la muestra (metálica o
semiconductora). Esto es posible cuando la distancia entre la punta y la
muestra es de unos pocos Å y se aplica
una tensión generalmente inferior a tres voltios entre la punta y la muestra
(4). De esta forma se pueden obtener imágenes sin precedentes de átomos
individuales en superficies con una resolución inferior a 1 Å, tanto lateral
como verticalmente. La clave de la sensibilidad STM reside en que la corriente túnel
de electrones varía un orden de magnitud por Å de distancia punta a muestra.
Pequeñas variaciones topográficas se traducen en grandes cambios de corriente.
Debido a la naturaleza del propio efecto túnel, la corriente de electrones que "tunelean" desde la punta
hasta los átomos de la superficie sondea orbitales electrónicos de valencia del
átomo. Por tanto, la microscopía STM también da información de los orbitales
electrónicos, permitiendo describir la estructura electrónica de las
superficies. Pero la característica más fascinante del STM es la manipulación
de la posición de átomos individuales, variando su ubicación espacial a
voluntad (5). Uno de los componentes básicos del STM a los que debe su éxito y
avance son los soportes piezoeléctricos sobre los que se montan las puntas.
Estos soportes permiten mover la punta con total precisión distancias < 1 Å
y mantenerla días con plena fiabilidad. Esta microscopía despierta un interés
exclusivamente académico, para estudiar las propiedades de la materia relacionadas
con la morfología de superficies, moléculas individuales, propiedades
eléctricas y magnéticas de moléculas y átomos individuales, afinidades y
enlaces electrónicos de átomos y moléculas individuales, síntesis de nuevos
materiales, propiedades electrónicas de materiales topológicos, entre otros
temas.
Como se señalaba anteriormente, las
microscopías electrónicas (salvo la STM) se benefician de la modulación de 𝜆dB a través de aumentar el momento del electrón para
alcanzar extraordinarios valores de resolución espacial y aumentos. Pero es sin
duda, el análisis de los distintos procesos de interacción de un electrón con
los átomos de la muestra en estudio lo que marca la mayor diferencia con la
microscopía óptica (ver figura 1). Así, las microscopías SEM y TEM son las
técnicas de caracterización estructural y composicional de nanomateriales más
empleadas tanto por científicos como por
ingenieros. Ambas tienen similitudes y diferencias en su tecnología. Las
similitudes son en cuanto al uso de fuentes de electrones para generar el haz,
lentes electromagnéticas para focalizarlo en una determinada ubicación espacial
de la muestra, y sistemas de vacío (vacío más alto para TEM) para minimizar la
desviación del haz a fin de mejorar la nitidez de la imagen. Por un lado, la
generación del haz de electrones emplea habitualmente filamentos de tungsteno o
dispositivos de efecto campo con el fin de crear haces de electrones coherentes
que mejoren el contraste de la imagen. Tras la generación del haz de electrones
en la fuente, se les somete a un alto voltaje con respecto a la muestra para
dotarles de un momento p definido.
Estos valores de voltaje suelen ser de unos
~100 kV para un TEM estándar hasta 200 kV para un TEM de alta
resolución. En el caso del SEM, el voltaje aplicado es inferior a los 40 kV.
Por otro lado, las lentes electromagnéticas se basan en la fuerza que ejerce un
campo magnético sobre una carga eléctrica que se mueve con una determinada
energía cinética F͞ = q𝜈͞ x B͞ . También, los campos eléctricos
pueden deflectar un ángulo fijo la trayectoria de un electrón. La aplicación de
una fuerza magnética y/o eléctrica permite desplazar lateralmente la
trayectoria de un haz de electrones para focalizarlo en una posición especial
determinada. Para ello, se requiere que la muestra esté en un vacío cuya
presión típica oscile entre 10-4 y 10-8 Pa. La necesidad
de vacío en la cámara de la muestra limita consecuentemente tanto el modo de
introducir las muestras como su preparación. Así por ejemplo, las muestras
biológicas (que poseen un gran contenido en agua) requieren ser inmovilizadas
en resinas plásticas (fijación química, intercambio de agua e inclusión en
resina) o ser preservadas en frío (crío-fijación) para no alterar las
condiciones de vacío.
Por el contrario, los SEM y TEM poseen
grandes diferencian en cuanto al tipo de muestras que pueden estudiar y a su
preparación. Por un lado, las muestras SEM
han de ser conductoras o de lo contrario ser metalizadas para evitar
acumulación de electrones (carga) lo cual altera la calidad de la imagen. Por
otro lado, las muestras TEM pueden ser cualquier tipo de muestras amorfas,
cristalinas, biológicas, etc. Su única condición es que el espesor ha de ser
ultrafino (inferior a 500 nm) para permitir la transmisión de electrones a
través. También, las técnicas de visualización de imágenes son distintas para
el SEM y TEM ya que analizan diferentes procesos de interacción electrón-materia
(ver figura 1), sean relacionados con la transmisión (TEM) o con la difusión
(SEM) del electrón sobre la muestra. Así, el TEM proporciona imágenes de mayor
resolución (hasta 3 Å cuando la aberración esférica de tercer orden está
corregida (6)) que son una proyección bidimensional generada por la
superposición de las funciones de ondas de los electrones que atraviesan la
muestra. Sin embargo un SEM proporciona imágenes tridimensionales de la
superficie pero con una menor resolución espacial (~10 nm). A los correspondientes
sistemas de visualización SEM y TEM, se les puede complementar con otro tipo de
análisis (rayos X, catodoluminescencia, pérdidas de energía del electrón,
procesos Auger, electrones secundarios, etc.…) que proporcionan valiosa
información sobre la muestra (composición química, número atómico, estado
electrónico). En la actualidad, la gran revolución ha llegado de la mano de los
detectores directos de electrones, que han permitido la toma de datos con mucha
menor intensidad del haz y mejor contraste. Tradicionalmente, los histogramas o
imágenes de SEM y TEM se han venido haciendo en blanco y negro, porque la
técnica elimina los matices cromáticos. Recientemente se ha logrado la manera
de colorear dichas imágenes empleando un detector que captura los electrones
que devuelven los iones en color (7). También, por el avance informático que
permite controlar y analizar imágenes en las que se combinan imágenes
morfológicas con "mapeados"
de la muestra en relación a distintos análisis (por ejemplo, presencia de un
elemento químico). La llegada de las cámaras CCD y la mejora en la informática
permitió la automatización de los procesos de visualización de imágenes y de
control de los componentes del microscopio.
(pinchar en la imagen para aumentar)
Figura 1: Representación esquemática de las distintas modalidades de interacción
de un haz de electrones y la materia.
2 Otras microscopías basadas en otras
partículas fundamentales
Como
hemos mencionado anteriormente, la microscopía electrónica se basa en el
carácter ondulatorio del electrón para el análisis de la materia. No existen
otras microscopías alternativas basadas en el carácter ondulatorio de otras
partículas fundamentales con carga por la dificultad en las condiciones de su
generación y la imposibilidad de
desarrollar fuentes (estas partículas se generan típicamente en instalaciones
de alta energía). Sin embargo, si ha sido posible desarrollar microscopios que
emplean haces de partículas más pesadas, como son los iones de gases nobles
(He, Ne, Ar), moléculas de hidrogeno (H2) o mezclas de ambos. La
invención de la microscopía de iones de campo (en inglés, Field Ion Microscopy,
FIM) por Erwin Wilhelm Müller en
1951 permite analizar superficies con una metodología similar a la del SEM
(análisis de electrones secundarios). Sin embargo, su resolución espacial (<
3 Å) es dos órdenes de magnitud superior
gracias a que la longitud de onda de los iones es más corta que la de los
electrones. Otra de sus ventajas respecto al SEM es que la muestra no requiere
ser un conductor eléctrico. Las generalidades del funcionamiento de un FIM son
similares a las de un SEM, variando la fuente de ondas (iones), la
refrigeración de muestra (a temperaturas entre 10 y 150 K) que está colocada en
un soporte redondeado (de radio entre 10 y 100 nm) y el sistema de
visualización de la superficie de la muestra que incluye placas con microcanales
para amplificar la señal de los iones dispersados. La versión más avanzada del
FIM es la que emplea iones de He comercializado desde 2007 (8) debido a que los
iones de He no alteran la muestra en estudio por la ligera masa del He.
Finalmente, mencionar que si bien la microscopía óptica se basa en luz visible,
luz de alta energía como son los Rayos X (con longitudes de onda 2-4 nm, cien
veces más pequeña que la luz visible) ofrece una resolución espacial del orden
de los 30 nm. En 1950, Sterling Newberry desarrolló
el primer microscopio de rayos X que fue comercializado por General Electrics.
A día de hoy, se han realizado versiones que permiten un barrido de la muestra (en
inglés, Scanning X-Ray microscope) y se
benefician de las cámaras CCD y el avance de la informática para el control del
microscopio, y el análisis de imágenes.
Notas:
1. Gribbin, John (2006). Historia de
la ciencia. 1543-2001. Crítica, p. 82.
2. Finlay BJ1, Esteban GF. Int Microbiol. 2001 Sep;4(3):125-33.
3. Louis Victor de Broglie, RECHERCHES SUR LA THÉORIE DES QUANTA (Ann. de
Phys., 10e série, t. III (Janvier-Février 1925).
4. Gerd
Binnig and Heinrich Rohrer" Scanning
tunneling microscopy—from birth to adolescence" Rev. Mod. Phys. 59,
615 – Published 1 July 1987.
5. Famosa es la imagen de STM con el texto
"IBM" que escribieron con átomos
individuales los descubridores del STM mientras trabajaban en el Centro
de Investigación IBM en Zürich (Suiza).
6. La aberración esférica es el óptico por
excelencia en la limitación de la resolución espacial del TEM y SEM.
7. Adams, Stephen R. et al., Cell Chemical Biology, Volume 23, Issue 11,
1417-1427
8. Orion Helium Ion Microscope, ZEISS Group
Francisco
José Terán Garcinuño
Doctor en Ciencias Físicas
Investigador en iMdea
NanocienciaFrancisco J. Terán
Licenciado en 1997 en Ciencias Físicas por la Universidad Autónoma de Madrid, obtuvo en 2001 el título de Doctor en Ciencias Físicas por la Université Joseph Fourier - Grenoble 1. Realizó varias estancias postdoctorales en la Universidad de Nottingham (Nottingham, Reino Unido), Laboratorio de Altos Campos Magnéticos CNRS/MPI-FKF (Grenoble, Francia), y la Universidad Autónoma de Madrid entre 2002 y 2007. Posteriormente, se incorporó como investigador senior en el Centro Tecnológico Gaiker antes de volver a Madrid en el Instituto de Estudios Avanzados en Nanociencia, donde desde 2012 lidera el Laboratorio de Hipertermia y el Servicio de Instrumentación.
Sus investigaciones se centran en el estudio de propiedades magnéticas de nanopartículas de óxidos de hierro para aplicaciones biomédicas (sensores, mediadores de calor y trazadores de imagen). Ha desarrollado numerosos prototipos para la caracterización de propiedades ópticas, electricas y magnéticas de nanomateriales. Es autor de más de 60 artículos científicos, un libro, y varios capítulos, y cuenta con decenas de comunicaciones a congresos internacionales.